在 2025 年 IEEE 国际电子器件大会(IEDM 2025) 上,英特尔代工(Intel Foundry) 公布了一项面向 AI 时代系统级芯片(SoC) 的关键技术进展——下一代嵌入式去耦电容器。
该技术针对先进制程下晶体管持续微缩所引发的 供电不稳定与功率传输受限问题,通过新型材料与结构设计,为 AI 芯片和高性能计算芯片 提供更稳定、更高效的电源解决方案。
英特尔展示了三种用于深沟槽 MIM 电容 的新材料,包括 铁电铪锆氧化物(HfZrO)、二氧化钛(TiO₂) 和 钛酸锶(SrTiO₃),并结合 ALD 原子层沉积工艺,在提升电容密度的同时显著降低漏电水平。
数据显示,该技术的 电容密度可达 60–98 fF/μm²,漏电性能较行业目标 低 1000 倍,且不影响击穿电压与长期可靠性。
这一突破有望提升 AI 芯片的 电源完整性、热管理能力与芯片面积利用率,为下一代先进 CMOS 工艺和高功率 AI 计算提供关键支撑。
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